SD存储卡可靠性测试设备

SD存储卡可靠性测试设备

设备介绍:


本产品是专为 SD各类存储卡打造全维度可靠性验证方案,覆盖消费级、工业级存储卡的高低温老化、循环读写、高低压应力、温湿度循环等全流程测试需求,适配存储卡生产研发、品控验证、可靠性认证等全场景应用,为存储元器件的稳定运行筑牢测试防线。


技术规格与核心性能:

技术规格

核心构型

单腔34 slots

层间距设计

45mm

自动化选项

测试板自动插拔机构;

自动开关门机构(可选)

性能指标

温度范围(℃)

-10℃~150℃;-40℃~150℃;-70℃~150℃(可选)

温度均匀度(℃)

空载±1℃;满载±3℃

带载能力(kw)

6.5kw


核心优势

1.全规格兼容:支持 SD系列存储卡,适配各类封装尺寸,无需频繁更换夹具,降低测试成本。

2. 测试稳定:接触稳定,高低频信号匹配,长使用寿命,适配长期批量测试。

3. 智能化控制:支持多通道独立控温、独立读写,可自定义测试流程,实时监控测试数据,异常情况自动报警并记录,实现无人值守测试。

4. 严苛环境模拟:可模拟高温高湿、高低温冲击、电压波动等复杂工况,复现存储卡实际应用中的各类环境应力,全面验证产品可靠性。


典型应用:

 1. 适用于消费电子、工业控制、车载电子、安防监控、航天军工等领域的 SD存储卡研发与生产环节

2. 满足存储卡生产企业的来料检测、制程品控、成品可靠性认证,

3 . 支撑科研机构、检测实验室对存储器件的性能研究与可靠性验证,适配消费级高速存储卡、工业级宽温存储卡、车规级抗干扰存储卡等多类型产品的全流程测试需求。


品质承诺:

1. 设备核心部件均经过严苛筛选与老化测试,整机出厂前完成全流程标定与试机验证。

2. 提供定制化方案设计、安装调试、专业操作培训。

3. 设备质保期内免费更换故障配件,质保期后提供终身技术升级支持。




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