产品展示

稳定可靠，持久运行

高温反偏老化试验系列产品

高温反偏老化试验系列产品

设备介绍：本产品专注于半导体分立器件可靠性验证，可精准完成高温反偏（HTRB）和高温漏电流测试（HTIR），全面适配新能源、汽车电子、工业控制等多领域严苛测试需

GPU老化系列产品

GPU老化系列产品

设备介绍：本产品聚焦GPU芯片及模组全生命周期可靠性测试需求，针对消费级、工业级、车规级、服务器级GPU的产品特性与应用工况，打造全维度、高适配、强算力的专业老

集成电路老化系列产品

集成电路老化系列产品

设备介绍：本产品深耕集成电路可靠性测试领域，针对不同功率、不同类型IC器件打造全系列HTOL老化测试解决方案，覆盖消费级、工业级、车规级集成电路全场景测试需求，

SD存储卡可靠性测试设备

SD存储卡可靠性测试设备

设备介绍：本产品是专为 SD各类存储卡打造全维度可靠性验证方案，覆盖消费级、工业级存储卡的高低温老化、循环读写、高低压应力、温湿度循环等全流程测试需求，适配存储

新闻动态

以质取胜，以诚致远

告别“虚标”与“冷热死”｜DHT@.SEMI 全维度SD存储卡可靠性测试设备

【设备技术规格】随着人工智能加速边缘落地、新能源汽车智能化程度加深，低速存储芯片的用量呈指数级增长，DHT@.Semi低速存储芯片老化系列产品将以成熟可靠的品质

2026-06-11

DHT多禾试验低速存储芯片老化系列产品：以成熟技术赋能芯片质检，五年保修护航量产可靠性

DHT多禾试验低速存储芯片老化系列产品：以成熟技术赋能芯片质检，五年保修护航量产可靠性

作为深耕环境可靠性测试设备领域多年的技术型企业，DHT®（多禾试验）始终以“测控精准、运行稳定、经久耐用”为产品设计原点。在半导体老化测试这一关键领域，DHT®

新品发布 | DHT®.Semi 低带宽存储芯片老化测试用试验设备

新品发布 | DHT®.Semi 低带宽存储芯片老化测试用试验设备

DHT®.Semi 洞察市场需求，同步推出“低带宽存储芯片老化测试用试验设备”，以卓越的性价比，为更广泛的芯片产品提供坚实的质量后盾！一、设备介绍DHT®.S

新品发布 | DHT®.Semi高带宽存储芯片老化测试用试验设备正式对外发布

新品发布 | DHT®.Semi高带宽存储芯片老化测试用试验设备正式对外发布

长期以来，芯片老化测试此类核心设备市场由少数国际巨头牢牢主导。国内高端产线不仅面临高昂的采购与维护成本，更在供应链安全和快速响应上受制于人。今天，这一局面迎来实

DHT®（多禾试验）启用新生产基地：智造升级·聚势前行

DHT®（多禾试验）启用新生产基地：智造升级·聚势前行

尊敬的合作伙伴：衷心感谢您长期以来的信任与支持！我们诚挚地通知您，为满足产量增长需求、持续提升服务能力，DHT®（多禾试验）将于2025年5月正式启用全新智能化

DHT品牌含义解析

DHT品牌含义解析

DHT®（多禾试验）是行业领先的环境模拟解决方案供应商。其核心业务围绕“DHT”展开，这一缩写具有双重含义：Dynamic Heat Test（动态热测试）和

以品质立企，以技术创新，DHT^®.Semi致力于成为值得信赖的半导体测试设备专业服务商。

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